专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高分子薄膜构象转变温度检测方法及系统-CN202010884967.6在审
  • 魏东山;高建魁;凌东雄;刘竞博 - 东莞理工学院
  • 2020-08-28 - 2021-02-05 - G01N21/3586
  • 该方法包括:测量温控样品池的赫兹时域光谱信号;在温控样品池的升温范围内按照第一预设间隔选取温度点测量薄膜样品的第一赫兹时域光谱信号;根据温控样品池的赫兹时域光谱信号以及第一赫兹时域光谱信号,确定薄膜样品的转折温度;在转折温度的预设温度范围内按照第二预设间隔选取温度点测量薄膜样品的第二赫兹时域光谱信号;根据温控样品池的赫兹时域光谱信号以及第二赫兹时域光谱信号确定薄膜样品的构象转变温度。本发明利用赫兹时域光谱技术对高分子薄膜构象转变温度进行检测,具有快速、无标记、操作简单、适用范围广、重复性好、结果精确度高等优点。
  • 一种高分子薄膜构象转变温度检测方法系统
  • [发明专利]基于赫兹波的复合绝缘子缺陷检测装置、方法及介质-CN201910900805.4有效
  • 梅红伟;江怀远;王黎明 - 清华大学深圳国际研究生院
  • 2019-09-23 - 2021-11-09 - G01N21/88
  • 一种基于赫兹波的复合绝缘子缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质,所述方法包括:采集入射至复合绝缘子的赫兹时域入射波及经过复合绝缘子反射回的赫兹时域反射波;将赫兹时域入射波转换为赫兹频域入射波及将赫兹时域反射波转换为赫兹频域反射波;基于赫兹频域入射波、复合绝缘子的传递函数及预设校正项构建赫兹频域反射波的频域表达式;对频域表达式进行求解得到该传递函数的频域最优解;将传递函数的频域最优解转换为时域波形;及基于传递函数的时域波形分析得到所述复合绝缘子的缺陷检测结果本发明利用去卷积算法对波形进行分析,降低赫兹脉冲重叠的可能性,提升复合绝缘子缺陷检测精度。
  • 基于赫兹复合绝缘子缺陷检测装置方法介质

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